Yarıiletken aygıtlar ve elektronik malzemelerSemiconductor devices & electronic materials

  • Focus: Ferroelectric/semiconductor sistemler, Schottky yapılar, dielektrik süreçler.Ferroelectric/semiconductor systems, Schottky structures, dielectric processes.
  • Methods: Dielektrik spektroskopi, I–V / C–V ölçümleri, analiz ve modelleme.Dielectric spectroscopy, I–V / C–V measurements, analysis and modeling.
  • Applications: Aygıt fiziği, sensör/arayüz yapıları, malzeme-ölçüm ilişkisi.Device physics, sensor/interface structures, measurement-driven insights.

Nanoteknoloji ve nanofabrikasyonNanotechnology & nanofabrication

  • Focus: İnce film ve nanoyapıların üretimi ve süreç optimizasyonu.Thin-film and nanostructure fabrication with process optimization.
  • Methods: Litografi, ince film süreçleri, ölçüm altyapısı entegrasyonu.Lithography, thin-film processes, measurement infrastructure integration.
  • Applications: Prototipleme, cihaz geliştirme, laboratuvar süreç tasarımı.Prototyping, device development, lab process design.

İleri spektroskopi ve karakterizasyonAdvanced spectroscopy & characterization

  • Focus: Optik/elektriksel/manyetik özelliklerin çoklu yöntemle incelenmesi.Multi-method study of optical/electrical/magnetic properties.
  • Methods: Spektroskopi tabanlı ölçümler ve veri analizi.Spectroscopy-based measurements and data analysis.
  • Applications: Malzeme seçimi, performans doğrulama, yayınlanabilir ölçüm setleri.Material selection, performance validation, publishable datasets.

Radyasyon dedektör sistemleriRadiation detector systems

  • Focus: Dedektör elektroniği, veri toplama ve sistem entegrasyonu.Detector electronics, data acquisition, and system integration.
  • Methods: DAQ, sinyal işleme, prototip test akışları.DAQ, signal processing, prototyping test workflows.
  • Applications: Taşınabilir dedektörler, ölçüm sistemleri, saha uygulamaları.Portable detectors, measurement systems, field applications.

Uygulamalı enstrümantasyon ve gömülü sistemlerApplied instrumentation & embedded systems

  • Focus: Uçtan uca ölçüm/kontrol platformları: donanım + yazılım.End-to-end measurement/control platforms: hardware + software.
  • Methods: Gömülü haberleşme, veri akışı, arayüz ve otomasyon.Embedded communications, data streaming, UI and automation.
  • Applications: Laboratuvar otomasyonu, gerçek zamanlı izleme, eğitim amaçlı sistemler.Lab automation, real-time monitoring, teaching platforms.

Yöntemler, araçlar ve altyapıMethods, tools & infrastructure

Çalışmalarımda dielektrik spektroskopi tabanlı ölçümler, aygıt karakterizasyonu ve ölçüm otomasyonu gibi altyapıların kurulumu ve iyileştirilmesi öne çıkar.My work emphasizes measurement infrastructure (dielectric spectroscopy, device characterization) and automation/modernization of instrumentation workflows.

Projeler ve fonlarProjects & funding

TÜBİTAK ve üniversite destekli projeler; araştırma fonu ve kurumsal proje deneyimi.TÜBİTAK and university-supported projects; research funding and institutional project experience.

Araştırma çıktılarıResearch outputs

Dergi yayınları, atıf sayısı, danışmanlık ve proje katılımı ile araştırma grubu katkısı.Journal publications, citation count, supervision and project involvement, research group contribution.

Güncel ve gelecek yönlerCurrent and future directions

Dedektör sistemleri, uygulamalı enstrümantasyon, gömülü veri toplama/kontrol, disiplinler arası mühendislik entegrasyonu, yayınlanabilir uygulamalı sistem araştırması.Detector systems, applied instrumentation, embedded acquisition and control, interdisciplinary engineering integration, publishable applied systems research.

İşbirliği ilgileriCollaboration interests

Akademik işbirliği; disiplinler arası danışmanlık; sanayi bağlantılı araştırma; prototip ve sistem geliştirme; uygulamalı araştırmada öğrenci danışmanlığı.Academic collaboration; interdisciplinary supervision; industry-linked research; prototype and system development; student mentoring in applied research.

Akademik profillerAcademic profiles

  • ORCIDORCID: 0000-0002-0395-8375
  • ResearcherIDResearcherID: E-1909-2017
  • Scopus Author IDScopus Author ID: 55502986100